聚合物絕緣子的起痕與蝕損試驗和加速老化試驗的不同

盡管本標準中描述的幾種起痕與蝕損試驗方法在文獻中可能經(jīng)常被稱(chēng)為“老化試驗”，但指出它們 在一定意義上不是加速老化試驗很重要。因為這些試驗既不能模擬確切的降低實(shí)際使用壽命的條件， 也不能通過(guò)短時(shí)間的加速給出一個(gè)壽命的等伉試驗…而所使用的持續的、循環(huán)的或組合的應力，是要試 圖努力發(fā)現可能危及絕緣子運行性能的潛在薄弱點(diǎn)。

這些相關(guān)的試驗（9. 3. 3,附錄A,附錄B）*被描為篩選試驗，可以用來(lái)剔除不適用的材料或者 設計。

聚合物絕緣子的老化過(guò)程一般不會(huì )同時(shí)造成容易測量的引起老化的逐漸變化的特征。絕緣子從 “性能良好”到“使用壽命結束”的璽化，經(jīng)常是迅速而沒(méi)有事先預兆的，并有可能被類(lèi)似前面提及的鹽霧 試驗中所得到蝕損深度，或強紫外線(xiàn)所造成的表面開(kāi)裂觀(guān)察到。這種變化的時(shí)間和速度依賴(lài)于很多參 數，包括絕緣了的材料、設計以及絕緣于的運行環(huán)境。因此，對于用這樣的老化試驗預測絕緣于的真實(shí) 壽命，僅當得到在相同或相似的環(huán)境下相同或相似的絕緣子的關(guān)于損傷或降解的數據冇效時(shí)，才是有訂 能的。

因此,這些試驗的應用是為了給出設計和材料的特性與比較苛刻而拒?chē)揽岬沫h(huán)境中呈現的應 力之間關(guān)系的-般信息。

重要的是，要注意到通過(guò)標準的“試驗結束”時(shí)的破壞水平在大部分運行環(huán)境下是不能接受的。例 如，在相關(guān)試驗（9. 3.-3,附錄A,附錄B）中"［到3 mm的蝕損深度在試驗中是可以接受的，但絕緣子 運行中這不能被接受.，在絕緣*的設計壽命中也不希望發(fā)生。

進(jìn)一步的信息，見(jiàn)C1GRE技術(shù)手冊142冊：“聚合物絕緣子的i'|然和人工老化以及污穢試驗” （）7,1999。