技術(shù)文章
Technical articles首先第一步需要測試體積電阻值和表面電阻值,然后根據試樣的尺寸和電極系數,根據計算公式得到體積電阻率和表面電阻率,體積和表面電阻測試時(shí),對電壓試樣的位置不同,從而能夠不同的電阻值
在接和未接試樣時(shí)電容的變化量是通過(guò)這個(gè)電容器來(lái)測得。在測微計電極中,次要的誤差來(lái)源于電容校正時(shí)所包含的電極的邊緣電容,此邊緣電容是由于插入一個(gè)與電極直徑相同的試樣而稍微有所變化,實(shí)際上只要試樣直徑比電極直徑小2倍試樣厚度,就可消除這種誤差。首先將試樣放在測微計電極間并調節測量電路參數。然后取出試樣,調節測微計電極間距或重新調節標準電容器來(lái)使電路的總電容回到初始值?!鱃——接入試樣后,(圖1)的兩個(gè)電容讀數之差。值得注意的是在整個(gè)試驗過(guò)程中試驗頻率應保持不變。貼在試樣上的電極的電阻在髙頻下會(huì )變得相當大,如果試樣不平整或厚度不均勻,將會(huì )引起試樣損耗因數的明顯增加。這種變得明顯起來(lái)的頻率效應,取決于試樣表面的平整度。
該頻率也可低到10MHzt因此,必須在ioMHg及更高的頻率下,且沒(méi)有貼電極的試樣上做電容的損耗因數的附加測量,假設Cw和tan<5w為不貼電極的試樣的電容和損耗因數,Cw-…帶電極的試樣電容。在一個(gè)線(xiàn)路兩點(diǎn)之間的接地屏蔽,可消除這兩點(diǎn)之間的所有的電容,而被這兩個(gè)點(diǎn)的對地電容所代替,因此,導線(xiàn)屏蔽和元件屏蔽可任意運用在那些各點(diǎn)對地的電容并不重要的線(xiàn)路中;變壓器電橋和帶有瓦格納接地裝置的西林電橋都是這種類(lèi)型的電路。從另一方面來(lái)說(shuō),在采用替代法電橋里,在不管有沒(méi)有試樣均保持不變的線(xiàn)路部分是不需要屏蔽的。實(shí)際上,在電路試樣、檢測器和振蕩器的連線(xiàn)屏蔽起來(lái)。對于100kHz數量級或更高的頻率,連線(xiàn)應可能短而粗。