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更新時(shí)間：2021-09-23
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測量次序
將直流電壓施加在試樣上,會(huì )改變其隨后測量的工頻 tan6的結果。
當在同一試樣上相繼測量電容率、損耗因數和電阻率時(shí),工頻下測量應在對試樣施加直流電壓以前進(jìn)行。工頻試驗后,應將兩電極短路1min后再開(kāi)始測量電阻率。
導致錯誤結果的因素
雖然只有嚴重污染才會(huì )影響電容率。但微量的污染卻能強烈地影響 tan 和電阻率。
不可靠的結果通常是由于不適當的取樣或處理試樣所造成的污染、由未洗凈試驗池或吸收了水份, 特別是存在不溶解的水份所引起。
在貯藏期間長(cháng)久暴露在強光線(xiàn)下會(huì )導致電介質(zhì)劣化,采用所推薦液體樣品貯存和運輸以及試驗池的結構和凈化的標準化程序,可使由污染引起的誤差減至*小
當前位置：
