技術(shù)文章
Technical articles電阻率測試儀在使用中會(huì )遇到哪些問(wèn)題?
1. 在測容性負載阻值時(shí),絕緣電阻測試儀城出短路電流大小與則量數據有什么關(guān)系,為什么?
絕續電陽(yáng)測試儀輸出短路電流的大小可反映出讀兆政表內部輸出高壓源內粗的大小。當被測試品存在電容.量時(shí),在剛城過(guò)程的開(kāi)始階設,絕零電阻測試收內的高壓源要通過(guò)其內阻向該電容充電,并逐步將電壓克到艷口祖測試儀的輸出需定高壓值。顯然,如果試品的電容量值很大。咸高壓源內阻很大,這一充電過(guò)程的耗時(shí)就會(huì )加長(cháng)。其長(cháng)度可由R內和C負載的乘積決定(單位為)。請注意,給電容充電的電流與被測試品絕緣電阻上流過(guò)的電流,在測試中是一起流入絕緣電阻測試儀內的。 絕緣電阻測試儀測得的電流不僅有絕緣電阻上的分量,也加入了電容充電電流分量,這時(shí)測得的阻值將偏小。
如:額定電壓為5000V的絕緣電阻測試儀,若其短路輸出電流為80μA(日本共立產(chǎn)),其內阻為5000V/80μA= 62M2
如:試品容量為0.15μF,則時(shí)間常數T=62MS2x0.15μF≈9 ()即在18時(shí)刻,電容上的充電電流仍有11.3μA。
由此可見(jiàn),僅由充電電流而形成的等效電阻為5000V/11.3μA = 442MS2,若正常絕緣為1000M2,則顯示的測得絕緣值僅為306MS2。這種試值已不能反映絕緣值的真實(shí)狀況了,而且試值主要是隨容性負載容量的變化而改變,即容量小,測試阻值大;容量大,測試阻值小。
所以,為保障準確測得R15s,R60s的試值,應選用充電速度快的大容量絕緣電阻測試儀。我國的相關(guān)規程要求絕緣電阻測試儀輸出短路電流應大于0.5mA、1 mA. 2 mA、5 mA,要求高的場(chǎng)合應盡量選擇輸出短路電流較大的絕緣電阻測試儀。
2.為什么測絕緣時(shí),不但要求測單純的阻值,而且還要求測吸收比,化指數,有什么意義?
在絕緣測試中,某一個(gè)時(shí)刻的絕緣電阻值 是不能反映試品絕緣性能的優(yōu)劣的,這是由于以下兩方面原因,一方面,同樣性能的絕緣材料,體積大時(shí)呈現的絕緣電阻小,體積小時(shí)呈現的絕緣電阻大。另一方面,絕緣材料在加上高壓后均存在對電荷的吸收比過(guò)程和化過(guò)程。所以, 電力系統要求在主變壓器、電纜、電機等許多場(chǎng)合的絕緣測試中應測量吸收比一即R60s和R15s的比值,和化指數即R10min和R1min比值,并以此數據來(lái)判定絕緣狀況的優(yōu)劣。
3.在高壓高阻的測試環(huán)境中,為什么要求儀表接"G"端連線(xiàn)?
在被測試品兩端加上較高的額定電壓,且絕緣阻值較高時(shí),被測試品表面受潮濕,污染弓|起的泄漏較大,示值誤差就大,而儀表" G'端是將被測試品表面泄漏的電流旁路,使泄漏電流不經(jīng)過(guò)儀表的測試回路,消除泄漏電流引起的誤差。
4.在校測某些型號絕緣儀表"L"、"E"兩端額定輸出直流高壓時(shí),用指針式萬(wàn)用表DCV檔測L、E兩端電壓,為什么電壓會(huì )跌落很多,而數字式萬(wàn)用表則不會(huì )?
用普通的指針式萬(wàn)用表直接在絕緣電阻測試儀"L" "E"兩端測量 其輸出的額定直流電壓,測量結果與標稱(chēng)的額定電壓值要小很多(超出誤差范圍),而用數字萬(wàn)用表則不會(huì )。這是因為指針式萬(wàn)用表內阻較小,而數字萬(wàn)用表內阻相對較大。指針式萬(wàn)用表內阻較小,絕緣電阻測試儀L-E端輸出電壓降低很多,不是正常工作時(shí)的輸出電壓。但是,用萬(wàn)用表直接去測絕緣電阻測試儀的輸出電壓是錯誤的,應當用內阻阻抗較大的靜電高壓表或用分壓器等負載電阻足夠大的方式去測量。
5.能不能用兆歐表直接測帶電的被測試品,結果有什么影響,為什么?
為了人身安全和正常測試,原則上是不允許測量帶電的被測試品,若要測量帶電被測試品,不會(huì )對儀表造成損壞(短時(shí)間內), 但測試結果是不準確的,因為帶電后,被測試品便與其它試品連結在一起, 所以得出的結果不能真實(shí)的反映實(shí)際數據,而是與其它試品-起的并聯(lián)或串聯(lián)阻值。
6.為什么電子式絕緣電阻測試儀幾節電池供電能產(chǎn)生較高的直流高壓?
這是根據直流變換原理,經(jīng)過(guò)升壓電路處理使較低的供電電壓提升到較高的輸出直流電壓,產(chǎn)生的高壓雖然較高但輸出功率較小。
7.用絕緣電阻測試儀測量絕緣電阻時(shí),有哪些因素會(huì )造成測量數據不準確,為什么?
A) 電池電壓不足。電池電壓欠壓過(guò)低,造成電路不能正常工作,所以測出的讀數是不準確的。
B) 測試線(xiàn)接法不正確。誤將"L"、"G"、 "E"三端接線(xiàn)接錯,或將"G"、 "L"連線(xiàn)"G"、 "E"連線(xiàn)接在被測試品兩端。
C) "G"端連線(xiàn)未接。被測試品由于受污染潮濕等因素造成電流泄漏引起的誤差, 造成測試不準確,此時(shí)必須接好"G"端連線(xiàn)防止泄漏電流引起誤差。(責任編輯: 螞蟻)
D) 干擾過(guò)大。如果被測試品受環(huán)境電磁干擾過(guò)大,造成儀表讀數跳動(dòng)?;蛑羔樆蝿?dòng)。造成讀數不準確。
E) 人為讀數錯誤。在用指針式絕緣電阻測試儀測量時(shí),由于人為視角誤差或標度尺誤差造成示值不準
確。
F) 儀表誤差。儀表本身誤差過(guò)大,需要重新校對。
8.高阻絕緣表現場(chǎng)測容性負載時(shí)(如主變),指針顯示阻值在某一區間突然跌落 (不是正常測試時(shí)的值區間內的緩慢小幅擺動(dòng)),快速來(lái)回擺動(dòng), 是什么原因?
造成該現象主要是試驗系統內某部位出現放電打火。絕緣表向容性被測試品充電中, 當容性試品被充至-定電壓時(shí),如果儀表內部測試線(xiàn)或被測試品中任-部位有擊穿放電打火, 就會(huì )出現上述現象。判別辦法:(1)儀表測試座不接入測試線(xiàn),開(kāi)啟電源和高壓,看儀表內是否有打火現象發(fā)生(若有打火可聽(tīng)到放電打火聲。(2)接上L、G、E測試線(xiàn),不接被測試品,L測試線(xiàn)末端線(xiàn)夾懸空,開(kāi)啟高壓,看測試導線(xiàn)是否有打火現象發(fā)生。若有打火現象,則檢查: a) L、 G測試線(xiàn)芯線(xiàn)(L端)與裸露在外的線(xiàn)(G端)是否過(guò)近,產(chǎn)生拉弧打火。b) L端芯線(xiàn)插頭與測試座屏蔽環(huán)或測試夾子與被測試品接觸不良造成打火。c) 測試線(xiàn)與插頭、夾子之間虛焊斷路,造成間隙放電。(3)接入被測試品, 檢查末端線(xiàn)夾與試品接觸點(diǎn)附近有無(wú)放電打火。(4)排除以上原因,接好被測試品,開(kāi)啟高壓,若儀表仍有上述現象則說(shuō)明被測試品絕緣擊穿造成局部放電或拉弧。